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X射线光电子能谱仪（XPS）
99.1%
好评率
XPS仪器型号 Thermo Kalpha；Thermo ESCALAB 250XI; Axis Ultra DLD Kratos AXIS SUPRA; PHI-5000versaprobeIII
已测试样品 124.04万个
常规周期 4个工作日
部分论文致谢
张**
华东理工大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
63.714
Science
500元
2023-04-28
张**
华东理工大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
63
Science
4500元
2023-05-08
李**
浙江大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
56.7
Nature Energy
1000元
2024-01-15
白**
西南石油大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
42.9
eScience
1000元
2024-06-26
黄**
湖南大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
39.714
Energy&Environmental Science
500元
2023-02-28
李**
武汉大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
39.714
Energy & Environmental Science
500元
2022-12-06
刘**
浙江大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
39.7
Energy & Environmental Science
500元
2022-07-20
高**
北京大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
38.6
Joule
500元
2024-12-27
安**
太原理工大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
38.532
Energy & Environmental Science
500元
2021-10-15
茆**
辽宁大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
36.3
Nano-Micro Letters
1000元
2025-06-19
宋**
北京理工大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.9
Energy & Environmental Science
1000元
2024-08-06
戴**
湖南大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.5
Energy & Environmental Science
1000元
2024-01-24
龙**
中南大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.5
Energy & Environmental Science
500元
2023-12-01
莫**
复旦大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.5
Energy & Environmental Science
500元
2023-11-21
崔**
深圳大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.5
Energy & Environmental Science
500元
2023-10-04
赵**
哈尔滨工业大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.5
Energy & Environmental Science
500元
2023-09-15
许**
四川大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.4
Energy & Environmental Science
1000元
2025-06-05
万**
福州大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.4
Energy & Environmental Science
1000元
2025-04-29
吴**
华中科技大学
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.4
Energy & Environmental Science
1000元
2025-04-15
姚**
中国科学院上海硅酸盐研究所（上海）
X射线光电子能谱仪（XPS）
32.4
Energy & Environmental Science
1000元
2025-02-11
项目简介
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强可获得样品表面元素含量或浓度。
一般有以下几个方面的应用：
1、元素组成分析
对于未知样品，首先进行全谱扫描，初步判断样品表面的元素组成；然后根据全谱扫描确定目标元素的窄区扫描能量范围，对其进行高分辨细扫描，从而获得其准确的结合能位置。
2、化学态分析
XPS 可通过测定内层电子的化学位移来推知原子的结合状态和电子分布状态等信息。
3、半定量分析
XPS 不仅可用于定性分析（元素组成及化学态分析），由于其峰强度与元素含量之间具有一定的相关性，通过测量光电子峰的强度还可以对元素进行定量分析，目前而言只将 XPS 用于元素的半定量分析。
4、深度剖析
通过氩离子枪溅射、机械切削以及改变掠射角等方式可以实现 XPS 的深度剖析，从而对一定深度范围内的薄层剖面进行元素组成和化学态分析，可提供材料的均匀性及元素的空间分布等信息。
结果展示
测试结果中包括原始数据，有SPE或VGP或VGD或VMS和EXCEL数据包，具体格式与设备有关。
以水滑石为例，部分元素常见谱图的测试结果如下所示：
样品要求
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：20-30mg
3. 块状、薄膜样品：块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm
注意：默认是一个样品测试一个位置，需要测试多个位置按照多个样品计费。薄膜、块体等样品，若样品表面组分不均匀，会造成测试结果的差异！
常见问题
1. 样品精细谱扫出谱峰？为什么全谱里没有呢？
全谱主要是用来定性分析的，设置参数的步长比较大，含量低的在全谱里扫不出谱峰。但是精细谱扫出谱峰就表示有该元素。
2. 每种元素的检测限一样么？
不一样。每种元素的主峰的灵敏度因子都不一样。
3. 怎么判断拟合是好是坏，是拟合了两个峰算好还是拟合了三个峰算好？
看波动大小，越小越好；还要看对应的物理意义。波动如下图所示。具体拟合几个峰，要参考样品本身的情况，以及拟合的贴合度，没有严格的界定哪个更好。
