烹饪设备及其控制方法、装置和存储介质与流程

发布时间：2025-07-06 01:07

智能家居与烹饪设备联动，实现远程控制 #生活知识# #生活感悟# #科技生活变迁# #饮食科技#

本发明的实施例涉及生活电器，具体而言，涉及一种烹饪设备、一种烹饪设备的控制方法、一种烹饪设备的控制装置和一种可读存储介质。

背景技术：

1、电磁炉是常用的家用电器，它不需要明火加热，而是利用线圈盘产生磁场在导磁锅具表面产生涡流发热。使用电磁炉烹饪方便、安全性高，广受用户的青睐。当使用铁锅在电磁炉上发生干烧时，电磁炉的干烧保护系统有一定延时，铁锅底部干烧温度最高可达600℃以上。

2、目前，电磁炉面板材料采用锂-铝-硅微晶玻璃材料，该材料的热膨胀系数接近零、强度高，因此在微晶玻璃上烹饪不用担心开裂问题。然而，随着全球锂资源价格上涨，微晶面板的成本大幅增加，给家电行业带来较大的经营压力。硼硅玻璃也是一种耐热玻璃，原材料价格低，成本便宜。

3、硼硅玻璃的热膨胀系数为3×10-6/k～4×10-6/k，耐冷热冲击温度为150℃～200℃，通过物理钢化处理可将硼硅玻璃的耐冷热冲击温度提升至350℃左右，但仍无法满足电磁炉面板的要求。

4、相关技术中，采用凸出式测温技术监测锅具的温度，以避免硼硅玻璃材料面板因温度过高而开裂，但是破坏了硼硅玻璃材料面板表面的完整性。

技术实现思路

1、本发明的实施例旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

2、为此，本发明的实施例的第一方面提供了一种烹饪设备。

3、本发明的实施例的第二方面提供了一种烹饪设备的控制方法。

4、本发明的实施例的第三方面提供了一种烹饪设备的控制装置。

5、本发明的实施例的第四方面提供了一种烹饪设备的控制装置。

6、本发明的实施例的第五方面提供了一种可读存储介质。

7、有鉴于此，根据本发明的实施例的第一方面，提供了一种烹饪设备，烹饪设备包括：设备本体；面板，设于设备本体，并与设备本体围设形成安装腔；电磁线圈加热件，设于安装腔内；多个安装槽，相互间隔地设于面板朝向安装腔的一侧；多个测温件，分别设于多个安装槽内，多个测温件用于测温。

8、本发明实施例提供的烹饪设备包括设备本体、面板、电磁线圈加热件、多个安装槽和多个测温件，具体而言，面板设置在设备本体上，且面板与设备本体围合形成安装腔，电磁线圈加热件位于安装腔内。能够理解的是，导磁锅具可取放地设于面板上，其中，烹饪设备可以包括导磁锅具，当然，也可以是用户家用的导磁锅具。

9、电磁线圈加热件在启动工作时，能够产生电磁场，电磁场穿过面板作用在导磁锅具上，从而使导磁锅具产生涡流而发热，进而实现对导磁锅具内食材的烹饪。其中，电磁线圈加热件包括线圈盘。

10、面板位于安装腔的一侧设有多个安装槽，且多个安装槽相互间隔设置，多个测温件分别设置在多个安装槽内，举例地，多个测温件一一对应地设置在多个安装槽内。能够理解的是，测温件用于测温，具体地，测温件用于测量导磁锅具的温度，从而可根据多个测温件的测温数据判断导磁锅具是否发生干烧，并在导磁锅具发生干烧时及时控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止加热，提高烹饪设备使用的安全性，避免面板因温度过高而开裂，延长烹饪设备以及导磁锅具的使用寿命。

11、而且，通过将多个测温件分别嵌入多个安装槽内，相较于相关技术中将热敏电阻或热电偶设置在面板的内表面而言，能够有效减小多个测温件与面板外表面之间的间距，即减小多个测温件与导磁锅具之间的间距，降低由于测温延时而导致面板存在开裂的风险，延长面板的使用寿命。此外，相较于相关技术中利用凸出式测温技术而言，能够及时判断导磁锅具是否发生干烧的同时，保证面板表面的完整性。

12、在实际应用中，面板为硼硅玻璃材料制成的面板，能够在确保面板耐冷热冲击的同时，降低烹饪设备的生产成本。

13、值得说明的是，测温件可以为热电偶或热敏电阻，具体可以根据实际需要进行设置。热电偶的形状包括但不限于正方形、圆形、长方形、三角形或多边形。

14、另外，安装槽槽侧壁的横截面可以为圆形，也就是说，安装槽可以为孔结构，即在面板朝向安装腔的一侧打孔，且孔的直径在0.5mm至10mm之间，从而便于测温件的探头能够埋入安装槽内。孔的加工方式包括但不限于激光、水刀或机械钻孔。具体可以根据实际需要进行设置。

15、可以理解的是，判断导磁锅具是否发生干烧，具体地，当多个测温件中一个测温件测得的温度大于预设温度(例如230℃～300℃)，则判断锅具整体发生干烧。或者，当多个测温件中一个测温件测得温度的变化率大于预设温度变化率(例如5℃/s～20℃/s)，则判断锅具整体发生干烧。

16、此外，当多个测温件中一个测温件的温度变化率大于其附近的一个测温件的温度变化率的1.1倍，则判断锅具在该测温件所在的位置处发生局部干烧。当发生干烧时，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板温度过高而发生开裂，延长面板以及锅具的使用寿命。

17、需要说明的是，烹饪设备还包括电路板、接线端子和主控板，电路板设置在面板朝向安装腔的一侧上，即电路板设置在面板的内表面，每个测温件的引线在电路板上排布，每个测温件的引线与接线端子连接，接线端子与主控板相连，从而可将多个测温件的测温数据发送至主控板，以使主控板可根据每个测温件的测温数据判断是否发生干烧。

18、另外，根据本发明上述技术方案提供的烹饪设备，还具有如下附加技术特征：

19、在一种可能的技术方案中，安装槽的槽深h与面板的厚度h满足25％h≤h≤90％h。

20、在该技术方案中，安装槽的槽深与面板的厚度之间的关系满足25％h≤h≤90％h，也就是说，在面板上的打孔深度h满足25％h≤h≤90％h，从而在确保面板结构强度的同时，提高多个测温件的测温精度，进而及时判断锅具是否发生干烧，防止面板因温度过高而开裂，延长面板的使用寿命。

21、能够理解的是，若安装槽的槽深小于25％h，测温件距离面板上表面距离过远，测温延迟大，当导磁锅具干烧时，与导磁锅具接触的玻璃表面温度迅速升高，而测温件由于测温延时无法及时控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止加热，导致面板因温度过高而破裂。

22、若安装槽的槽深大于90％h，测温件距离面板上表面距离过近，降低了面板的结构强度，当导磁锅具与面板上表面发生磕碰时面板容易破碎，降低面板，特别是硼硅玻璃材料制成的面板的使用寿命。

23、在一种可能的技术方案中，多个测温件包括多个第一测温件和多个第二测温件，多个第二测温件相较于多个第一测温件靠近面板的外边缘设置；其中，多个第一测温件和多个第二测温件沿电磁线圈加热件的周向间隔排布。

24、在该技术方案中，多个测温件包括多个第一测温件和多个第二测温件，具体而言，多个第二测温件相较于多个第一测温件靠近面板的外边缘设置，且多个第一测温件和多个第二测温件沿电磁线圈加热件的周向间隔排布，也就是说，多个第一测温件分布于第一圆周上，多个第二测温件分布于第二圆周上，其中，第二圆周的半径大于第一圆周的半径。也即多个第二测温件位于多个第一测温件径向方向的外侧。

25、能够理解的是，电磁线圈加热件包括线圈盘，线圈盘工作时形成的电磁加热区域类似圆形，将多个第一测温件和多个第二测温件沿电磁线圈加热件的周向间隔排布，能够增大多个测温件的测温区域，确保电磁加热区域内各个位置的温度都能被检测到，进而保证在面板任意局部位置发生干烧时都能被检测到，提高烹饪设备干烧判断的及时性和准确性，延长面板以及烹饪设备的使用寿命。

26、能够理解的是，多个第一测温件分布于第一圆周上，多个第二测温件分布于第二圆周上，具体第一测温件和第二测温件的数量可以根据实际需要进行设置。

27、在一种可能的技术方案中，多个第一测温件中相邻两个第一测温件之间的间距小于或等于多个第二测温件中相邻两个第二测温件之间的间距。

28、在该技术方案中，能够理解的是，多个第一测温件相较于多个第二测温件靠近发热区域的中心设置。电磁线圈加热件工作时，电磁场使导磁锅具发热而在面板上形成发热区域，多个第一测温件所在的测温区域相较于多个第二测温件所在的测温区域的温度较高，通过将多个第一测温件中相邻两个第一测温件之间的间距小于多个第二测温件中相邻两个第二测温件之间的间距，也就是说，多个第一测温件所在圆周上，将第一测温件分布的较密集，也即相邻两个第一测温件之间的间距较小，从而能够确保在温度较高的区域发生干烧时能够被及时检测到，进一步提高烹饪设备对于干烧判断的及时性和准确性，防止面板因局部温度过高而开裂。

29、当然，多个第一测温件中相邻两个第一测温件之间的间距也可以等于多个第二测温件中相邻两个第二测温件之间的间距，从而将多个第一测温件和多个第二测温件均匀分布，确保测温的可靠性和准确性。

30、在一种可能的技术方案中，第一测温件的数量n满足3≤n≤8；和/或第二测温件的数量m满足3≤m≤12。

31、在该技术方案中，第一测温件的数量为3个至8个，具体地，可根据电磁线圈加热件的不同直径进行调节，能够理解的是，电磁线圈加热件的直径较大，相应n的取值较大，对于尺寸较小的电磁线圈加热件，相应n的取值较小，具体可以根据实际需要进行设置。

32、由于电磁炉线圈盘直径一般小于220mm，当n＞8时，对测温精度提升不大，反而增加测温件和打孔的成本，进而增加烹饪设备的生产成本。当n＜3时，相邻两个第一测温件的相距较远，如果相邻两个测温件之间的区域发生干烧，则无法及时检测，增加面板开裂的风险。

33、通过将第一测温件的数量设置在3个至8个之间，能够在确保发生干烧时能够及时检测，以降低面板开裂风险的同时，降低烹饪设备的生产成本。

34、第二测温件的数量为3个至12个，具体地，可根据电磁线圈加热件的不同直径进行调节，能够理解的是，电磁线圈加热件的直径较大，相应m的取值较大，对于尺寸较小的电磁线圈加热件，相应m的取值较小，具体可以根据实际需要进行设置。

35、当m＜3时，相邻两个第二测温件相距较远，如果相邻两个第二测温件之间的区域发生干烧时，则无法及时检测。当m＞12时，相邻两个第二测温件之间的距离过小，对检测干烧信号提升不大，反而增加测温件和打孔的成本。

36、通过将第二测温件的数量设置在3个至12个，当锅具干烧发生在相邻两个第二测温件之间的区域时，相邻两个第二测温件仍能及时检测到干烧信号，降低面板开裂的风险。

37、在一种可能的技术方案中，电磁线圈加热件包括线圈盘；多个第一测温件分布在第一圆周上，第一圆周的圆心位于线圈盘的中轴线上；第一圆周的半径r1与线圈盘的半径r，满足0.4r≤r1≤0.7r。

38、在该技术方案中，多个第一测温件分布在第一圆周上，且第一圆周的半径与线圈盘半径之间的关系，满足0.4r≤r1≤0.7r。即进一步限定了多个第一测温件的分布位置，从而使得多个第一测温件能够对其所在位置对应的锅具区域的温度进行检测，并根据多个第一测温件的测温数据及时判断锅具是否发生干烧，降低面板开裂的风险，延长面板以及烹饪设备的使用寿命。

39、此外，第一圆周的半径在0.4r至0.7r之间，即在锅具温度较高的区域进行温度检测，提高干烧情况判断的准确性和及时性。

40、第一圆周的圆心位于线圈盘的中轴线上，即多个第一测温件能够对线圈盘的电磁加热区域进行温度检测，确保在电磁加热对应的区域内进行干烧的检测，进一步降低面板开裂的风险。

41、在一种可能的技术方案中，多个第二测温件分布在第二圆周上，第二圆周与第一圆周为同心圆；第二圆周的半径r2与线圈盘的半径r，满足0.7r≤r2≤0.9r。

42、在该技术方案中，多个第二测温件分布在第二圆周上，且第二圆周的半径与线圈盘半径之间的关系，满足0.7r≤r2≤0.9r。即进一步限定了多个第二测温件的分布位置，从而使得多个第二测温件能够对其所在位置对应的锅具区域的温度进行检测，并根据多个第二测温件的测温数据及时判断锅具是否发生干烧，降低面板开裂的风险，延长面板以及烹饪设备的使用寿命。

43、此外，第一圆周的半径在0.4r至0.7r之间，第二圆周的半径在0.7r至0.9r之间，第一圆周与第二圆周为同心圆，多个第一测温件分布在第一圆周上，多个第二测温件分布在第二圆周上，从而大大增加了多个测温件的测温区域，确保整个加热区域的任意位置发生干烧时都能被及时检测到，提高干烧情况判断的准确性和及时性，进一步降低面板开裂的风险，延长面板的使用寿命。

44、在一种可能的技术方案中，第一圆周的半径r1、第二圆周的半径r2与线圈盘的半径r，满足0.15r≤r2-r1≤0.4r。

45、在该技术方案中，进一步限定了第一圆周与第二圆周之间的间距，也即限定了多个第一测温件与多个第二测温件之间的间距。从而进一步确保整个加热区域的任意位置发生干烧时都能被及时检测到，提高干烧情况判断的准确性和及时性，进一步降低面板开裂的风险，延长面板的使用寿命。

46、能够理解的是，若r2-r1大于0.4r，即多个第一测温件与多个第二测温件之间的间距较大，则若第一测温件与第二测温件之间的区域发生干烧时，不能被及时检测到，增加面板开裂风险。若r2-r1小于0.15r，则第一测温件与第二测温件之间的间距较近，则不能保证整个加热区域的任意位置发生干烧时都能被及时检测到，增加面板开裂风险。

47、在一种可能的技术方案中，多个测温件还包括第三测温件，第三测温件位于线圈盘的中轴线上。

48、在该技术方案中，多个测温件还包括第三测温件，具体地，第三测温件位于线圈盘的中轴线上，也就是说，第三测温件位于第一圆周和第二圆周的圆心处，也即第三测温件位于电磁加热区域的中心，以对导磁锅具的中心位置的温度进行检测，即对烹饪过程的烹饪温度进行检测，从而可根据检测的烹饪温度调整烹饪设备的烹饪模式。

49、当然，当第三测温件检测锅具的中心位置温度大于预设温度时，可以判断锅具的中心位置处发生干烧。

50、通过多个第一测温件、多个第二测温件和第三测温件，实现电磁加热区域全区域的温度检测，确保任意区域发生干烧都能够被及时检测，降低面板开裂风险，延长面板的使用寿命。

51、在实际应用中，第三测温件可以为热敏电阻或热电偶，具体可以根据实际需要进行检测。

52、在一种可能的技术方案中，烹饪设备还包括电路板、接线端子和主控板，其中，电路板设置在面板朝向安装腔的一侧上，即电路板设置在面板的内表面，每个测温件的引线在电路板上排布，每个测温件的引线与接线端子连接，接线端子与主控板相连，从而可将多个测温件的测温数据发送至主控板，以使主控板可根据每个测温件的测温数据判断是否发生干烧。

53、根据本发明的第二个方面，提供了一种烹饪设备的控制方法，用于如上述任一技术方案提供的烹饪设备，因而具备该烹饪设备的全部有益技术效果，在此不再赘述。

54、进一步地，烹饪设备的控制方法包括根据多个测温件的测温数据，确定烹饪设备的锅具是否发生干烧；当锅具发生干烧的情况下，控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止工作。

55、本发明实施例提供的烹饪设备的控制方法包括，根据多个测温件的测温数据，判断锅具是否发生干烧，并在判断锅具发生干烧时降低加热功率或使电磁线圈加热件停止工作。

56、能够理解的是，导磁锅具可取放地设于面板上，其中，烹饪设备可以包括导磁锅具，当然，也可以是用户家用的导磁锅具。

57、电磁线圈加热件在启动工作时，能够产生电磁场，电磁场作用在导磁锅具上，从而使导磁锅具产生涡流而发热，进而实现对导磁锅具内食材的烹饪。其中，电磁线圈加热件包括线圈盘。

58、面板位于安装腔的一侧设有多个安装槽，且多个安装槽相互间隔设置，多个测温件分别设置在多个安装槽内，举例地，多个测温件一一对应地设置在多个安装槽内。能够理解的是，测温件用于测温，具体地，测温件用于测量导磁锅具的温度，从而可根据多个测温件的测温数据判断导磁锅具是否发生干烧，并在导磁锅具发生干烧时及时控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止加热，提高烹饪设备使用的安全性，避免面板因温度过高而开裂，延长烹饪设备以及导磁锅具的使用寿命。

59、而且，通过将多个测温件分别嵌入多个安装槽内，相较于相关技术中将热敏电阻或热电偶设置在面板的内表面而言，能够有效减小多个测温件与面板外表面之间的间距，即减小多个测温件与导磁锅具之间的间距，降低由于测温延时而导致面板存在开裂的风险，延长面板的使用寿命。此外，相较于相关技术中利用凸出式测温技术而言，能够及时判断导磁锅具是否发生干烧的同时，保证面板表面的完整性。

60、另外，根据本发明上述技术方案提供的烹饪设备的控制方法，还具有如下附加技术特征：

61、在上述技术方案中，根据多个测温件的测温数据，确定烹饪设备的锅具是否发生干烧，具体包括：当多个测温件中的一个测温件的检测温度大于预设温度的情况下，确定锅具发生干烧；或当多个测温件中的一个测温件的检测温度的变化率大于预设温度变化率的情况下，确定锅具发生干烧。

62、在该技术方案中，具体地，当一个测温件检测的温度超过预设温度(例如230℃～300℃)时，判断锅具此时整体发生干烧，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板温度过高而发生开裂，延长面板以及锅具的使用寿命。

63、或者，当一个测温件检测的温度变化率超过预设温度变化率(例如5℃/s～20℃/s)时，判断锅具此时整体发生干烧，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板温度过高而发生开裂。

64、在实际应用中，预设温度为230℃～300℃，预设温度变化率为5℃/s～20℃/s。具体可以根据实际需要进行设置。

65、在上述技术方案中，根据多个测温件的测温数据，确定烹饪设备的锅具是否发生干烧，具体还包括：在位于同一圆周上的多个测温件中，当一个测温件的检测温度的变化率a和其余测温件中的一个测温件的检测温度的变化率b，满足a＞1.1b的情况下，确定锅具发生干烧；其中，同一圆周表示为烹饪设备的第一圆周或第二圆周；或当一个测温件的检测温度的变化率m和与测温件相邻的一个测温件的检测温度的变化率n，满足m＞1.1n的情况下，确定锅具发生干烧。

66、在该技术方案中，位于同一圆周上的多个测温件中，当一个测温件的检测温度的变化率a和其余测温件中的一个测温件的检测温度的变化率b，满足a＞1.1b的情况下，确定锅具发生干烧。能够理解的是，多个测温件包括位于中轴线上的第三测温件、位于第一圆周上的第一测温件以及位于第二圆周上的第二测温件，也就是说，当一个第一测温件的温度变化率大于，该第一测温件所在圆周上的其余多个第一测温件中的，一个第一测温件的温度变化率的1.1倍，则判断锅具在该第一测温件所在的区域发生局部干烧。

67、其中，位于同一圆周上的多个测温件即为多个第一测温件或者多个第二测温件。

68、或者，当一个测温件的检测温度的变化率大于与该测温件相邻的一个测温件的检测温度的变化率时，则判断锅具在该测温件所在的区域发生局部干烧。

69、能够理解的是，发生干烧的位置在检测温度的变化率较高的位置处。当判断锅具发生局部干烧时，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板局部温度过高而发生开裂。

70、在上述技术方案中，根据多个测温件的测温数据，确定烹饪设备的锅具是否发生干烧，具体还包括：获取多个第一测温件中每个第一测温件与第三测温件的第一瞬时温度差，以及多个第二测温件中每个第二测温件与第三测温件的第二瞬时温度差；当多个第一瞬时温度差的平均值c与多个第二瞬时温度差的平均值d，满足c≥1.1d或d≥1.1c的情况下，确定锅具发生干烧。

71、在该技术方案中，多个测温件包括位于中轴线上的第三测温件、位于第一圆周上的第一测温件以及位于第二圆周上的第二测温件，其中，第一圆周的半径小于第二圆周的半径。

72、获取多个第一测温件中每个第一测温件与第三测温件的第一瞬时温度差，得到多个第一瞬时温度差，并计算多个第一瞬时温度差的平均值。同时，获取多个第二测温件中每个第二测温件与第三测温件的第二瞬时温度差，得到多个第二瞬时温度差，并计算多个第二瞬时温度差的平均值。其中，将烹饪设备在同一时刻多个测温件获得的温度值表示为瞬时温度，则瞬时温度差为多个测温件分别与第三测温件获得的温度值的差值。

73、当多个第一瞬时温度差的平均值大于多个第二瞬时温度差的平均值的1.1倍，或者多个第二瞬时温度差的平均值大于多个第一瞬时温度差的平均值的1.1倍时，判断锅具发生局部干烧。

74、能够理解的是，当多个第一瞬时温度差的平均值大于多个第二瞬时温度差的平均值的1.1倍时，则说明在多个第一测温件所在的区域发生局部干烧。

75、当多个第二瞬时温度差的平均值大于多个第一瞬时温度差的平均值的1.1倍时，则说明在多个第二测温件所在的区域发生局部干烧。

76、进一步地，当判断锅具发生局部干烧时，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板局部温度过高而发生开裂。

77、根据本发明的第三个方面，提供了一种烹饪设备的控制装置，用于如上述任一技术方案提供的烹饪设备，因而具备该烹饪设备的全部有益技术效果，在此不再赘述。

78、进一步地，烹饪设备的控制装置包括处理单元，处理单元用于根据多个测温件的测温数据，确定烹饪设备的锅具是否发生干烧；处理单元还用于当锅具发生干烧的情况下，控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止工作。

79、本发明实施例提供的烹饪设备的控制装置包括处理单元，处理单元根据多个测温件的测温数据，判断锅具是否发生干烧，并在判断锅具发生干烧时降低加热功率或使电磁线圈加热件停止工作。

80、能够理解的是，导磁锅具可取放地设于面板上，其中，烹饪设备可以包括导磁锅具，当然，也可以是用户家用的导磁锅具。

81、电磁线圈加热件在启动工作时，能够产生电磁场，电磁场作用在导磁锅具上，从而使导磁锅具产生涡流而发热，进而实现对导磁锅具内食材的烹饪。其中，电磁线圈加热件包括线圈盘。

82、面板位于安装腔的一侧设有多个安装槽，且多个安装槽相互间隔设置，多个测温件分别设置在多个安装槽内，举例地，多个测温件一一对应地设置在多个安装槽内。能够理解的是，测温件用于测温，具体地，测温件用于测量导磁锅具的温度，从而可根据多个测温件的测温数据判断导磁锅具是否发生干烧，并在导磁锅具发生干烧时及时控制电磁线圈加热件降低加热功率或停止加热，提高烹饪设备使用的安全性，避免面板因温度过高而开裂，延长烹饪设备以及导磁锅具的使用寿命。

83、而且，通过将多个测温件分别嵌入多个安装槽内，相较于相关技术中将热敏电阻或热电偶设置在面板的内表面而言，能够有效减小多个测温件与面板外表面之间的间距，即减小多个测温件与导磁锅具之间的间距，降低由于测温延时而导致面板存在开裂的风险，延长面板的使用寿命。此外，相较于相关技术中利用凸出式测温技术而言，能够及时判断导磁锅具是否发生干烧的同时，保证面板表面的完整性。

84、另外，根据本发明上述技术方案提供的烹饪设备的控制装置，还具有如下附加技术特征：

85、在上述技术方案中，处理单元具体用于当多个测温件中的一个测温件的检测温度大于预设温度的情况下，确定锅具发生干烧；或处理单元具体用于当多个测温件中的一个测温件的检测温度的变化率大于预设温度变化率的情况下，确定锅具发生干烧。

86、在该技术方案中，具体地，当一个测温件检测的温度超过预设温度(例如230℃～300℃)时，判断锅具此时整体发生干烧，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板温度过高而发生开裂，延长面板以及锅具的使用寿命。

87、或者，当一个测温件检测的温度变化率超过预设温度变化率(例如5℃/s～20℃/s)时，判断锅具此时整体发生干烧，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板温度过高而发生开裂。

88、在实际应用中，预设温度为230℃～300℃，预设温度变化率为5℃/s～20℃/s。具体可以根据实际需要进行设置。

89、在上述技术方案中，处理单元具体用于在位于同一圆周上的多个测温件中，当一个测温件的检测温度的变化率a和其余测温件中的一个测温件的检测温度的变化率b，满足a＞1.1b的情况下，确定锅具发生干烧；其中，同一圆周表示为烹饪设备的第一圆周或第二圆周；或处理单元具体用于当一个测温件的检测温度的变化率m和与测温件相邻的一个测温件的检测温度的变化率n，满足m＞1.1n的情况下，确定锅具发生干烧。

90、在该技术方案中，在位于同一圆周上的多个测温件中，当一个测温件的检测温度的变化率a和其余测温件中的一个测温件的检测温度的变化率b，满足a＞1.1b的情况下，确定锅具发生干烧。能够理解的是，多个测温件包括位于中轴线上的第三测温件、位于第一圆周上的第一测温件以及位于第二圆周上的第二测温件，也就是说，当一个第一测温件的温度变化率大于，该第一测温件所在圆周上的其余多个第一测温件中的，一个第一测温件的温度变化率的1.1倍，则判断锅具在该第一测温件所在的区域发生局部干烧。

91、其中，位于同一圆周上的多个测温件即为多个第一测温件或者多个第二测温件。

92、或者，当一个测温件的检测温度的变化率大于与该测温件相邻的一个测温件的检测温度的变化率时，则判断锅具在该测温件所在的区域发生局部干烧。

93、能够理解的是，发生干烧的位置在检测温度的变化率较高的位置处。当判断锅具发生局部干烧时，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板局部温度过高而发生开裂。

94、在上述技术方案中，处理单元具体用于获取多个第一测温件中每个第一测温件与第三测温件的第一瞬时温度差，以及多个第二测温件中每个第二测温件与第三测温件的第二瞬时温度差；处理单元具体还用于当多个第一瞬时温度差的平均值c与多个第二瞬时温度差的平均值d，满足c≥1.1d或d≥1.1c的情况下，确定锅具发生干烧。

95、在该技术方案中，多个测温件包括位于中轴线上的第三测温件、位于第一圆周上的第一测温件以及位于第二圆周上的第二测温件，其中，第一圆周的半径小于第二圆周的半径。

96、获取多个第一测温件中每个第一测温件与第三测温件的第一瞬时温度差，得到多个第一瞬时温度差，并计算多个第一瞬时温度差的平均值。同时，获取多个第二测温件中每个第二测温件与第三测温件的第二瞬时温度差，得到多个第二瞬时温度差，并计算多个第二瞬时温度差的平均值。其中，将烹饪设备在同一时刻多个测温件获得的温度值表示为瞬时温度，则瞬时温度差为多个测温件分别与第三测温件获得的温度值的差值。

97、当多个第一瞬时温度差的平均值大于多个第二瞬时温度差的平均值的1.1倍，或者多个第二瞬时温度差的平均值大于多个第一瞬时温度差的平均值的1.1倍时，判断锅具发生局部干烧。

98、能够理解的是，当多个第一瞬时温度差的平均值大于多个第二瞬时温度差的平均值的1.1倍时，则说明在多个第一测温件所在的区域发生局部干烧。

99、当多个第二瞬时温度差的平均值大于多个第一瞬时温度差的平均值的1.1倍时，则说明在多个第二测温件所在的区域发生局部干烧。

100、进一步地，当判断锅具发生局部干烧时，降低电磁线圈加热件的加热功率或控制电磁线圈加热件停止加热，以防止面板局部温度过高而发生开裂。

101、根据本发明的第四个方面，本发明提供了一种烹饪设备的控制装置，包括：控制器和存储器，其中，存储器中存储有程序或指令，控制器在执行存储器中的程序或指令时实现如上述中任一项方法的步骤。因此该烹饪设备的控制装置具备上述任一项的烹饪设备的控制方法的全部有益效果。

102、根据本发明的第五个方面，本发明提供了一种可读存储介质，可读存储介质上存储程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如上述中任一项方法的步骤。因此该可读存储介质具备上述任一项的烹饪设备的控制方法的全部有益效果。

103、根据本发明的附加方面和优点将在下面的描述部分中给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

网址：烹饪设备及其控制方法、装置和存储介质与流程 https://www.yuejiaxmz.com/news/view/1131590

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