电子设备检测方法及装置制造方法

电子设备常见问题自检方法 #生活技巧# #数码产品使用技巧# #电子维修基本技能#

电子设备检测方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种电子设备检测方法及装置。该电子设备检测方法包括：接收开始检测指令；响应开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；根据待检测项目的检测结果，获得每一待检测项目的单一性能状态；依据每一待检测项目的单一性能状态以及每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定电子设备的综合性能的参考阈值区间；每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对电子设备的综合性能的影响程度确定；依据每一待检测项目的单一性能状态和电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定电子设备的当前综合性能，获得电子设备的检测结果。可见，通过利用本方案，实现了对电子设备的当前综合性能的确定，最终提高了用户的使用体验。
【专利说明】电子设备检测方法及装置
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及电子设备领域，特别涉及一种电子设备检测方法及装置。
【背景技术】
[0002]随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得终端成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分，例如:手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑等电子设备已经得到普遍应用。
[0003]其中，适用于电子设备的应用也越来越多，在使用应用过程中会产生很多垃圾缓存，占用了电子设备仅有的内存空间，从而影响到电子设备的运行速度，最终降低了电子设备当前的性能；同时，各种类型的病毒、漏洞层出不穷，且表现更加隐蔽，导致危害程度更高，这无疑也将降低电子设备当前的性能。当然，在用户使用电子设备的过程中，还存在影响电子设备当前的性能的其他问题。
[0004]综上，为了用户更好的了解电子设备，以便后续对电子设备的使用与处理，对电子设备的当前综合性能的确定是非常重要的工作环节之一。

【发明内容】

[0005]基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备检测方法及装置，以确定出电子设备的当前综合性能。技术方案如下:
[0006]第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备检测方法，包括:
[0007]接收开始检测指令；
[0008]响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测；
[0009]根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态；
[0010]依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定；
[0011]依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。
[0012]优选的，依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，包括:
[0013]将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目；
[0014]确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间；
[0015]将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。
[0016]优选的，所述单一性能状态包括:扣分值；
[0017]相应的，将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目，包括:
[0018]将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。
[0019]优选的，依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为:
【权利要求】
1.一种电子设备检测方法,其特征在于,包括: 接收开始检测指令； 响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测； 根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态； 依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定； 依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，包括: 将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目； 确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间； 将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述单一性能状态包括:扣分值； 相应的，将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目，包括: 将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为:

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，依据所述待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为:

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述待检测项目包括: 垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类； 其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。
7.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括: 显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能。
8.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括: 显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。
9.一种电子设备检测装置，其特征在于，包括: 指令获得模块，用于接收开始检测指令； 指令响应模块，用于响应所述开始检测指令，对每一待检测项目分别进行检测； 单一性能状态确定模块，用于根据所述待检测项目的检测结果，获得所述每一待检测项目的单一性能状态； 参考阈值区间确定模块，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态以及所述每一待检测项目对应的初始阈值区间，确定所述电子设备的综合性能的参考阈值区间；其中，所述每一待检测项目对应的初始阈值区间依据该待检测项目对所述电子设备的综合性能的影响程度确定； 综合性能确定模块，用于依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能，获得所述电子设备的检测结果。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述参考阈值区间确定模块，包括: 第一待检测项目确定单元，用于将单一性能状态符合预设条件的待检测项目确定为第一待检测项目； 第一初始阈值区间确定单元，用于确定出所述第一待检测项目对应的初始阈值区间中下限值最小且区间值最小的第一初始阈值区间； 参考阈值区间确定单元，用于将所述第一初始阈值区间确定为所述电子设备的综合性能的参考阈值区间。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述单一性能状态确定模块，包括: 扣分值确定单元，用于根据所述待检测项目的检测结果，确定所述待检测项目的扣分值； 相应的，所述第一待检测项目确定单元，用于将扣分值大于零的待检测项目确定为第一待检测项目。
12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述综合性能确定模块依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为:

13.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述综合性能确定模块依据所述每一待检测项目的单一性能状态和所述电子设备的综合性能的参考阈值区间，确定所述电子设备的当前综合性能所利用的公式为:
14.根据权利要求9-13所述的装置，其特征在于，所述指令响应模块所检测的待检测项目包括: 垃圾数据项目、内存占用项目、设备漏洞项目、恶意软件项目、应用升级项目中的至少两类； 其中，所述垃圾数据项目包括系统缓存、残留文件、应用安装包中的至少一种。
15.根据权利要求9-13所述的装置，其特征在于，还包括: 第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能。
16.根据权利要求9-13所述的装置，其特征在于，还包括: 第一显示模块，用于显示所确定出的所述电子设备的当前综合性能，同时，显示每一待检测项目的检测结果。
【文档编号】G06F11/26GK103617106SQ201310634689
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年12月2日 优先权日:2013年12月2日
【发明者】鄢运华 申请人:广州金山网络科技有限公司

网址：电子设备检测方法及装置制造方法 https://www.yuejiaxmz.com/news/view/1258630

相关内容

点击操作方法及装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
一种机械手臂管理方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸
可移动设备控制方法及装置、电子设备及存储介质.pdf
在线尿素清除率检测方法、系统及电子设备技术方案
多相机视图预览的方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
一种电子设备防拆报警装置及电子设备制造方法及图纸
电子设备及使用方法技术
一种衣物处理设备及其脱水控制方法、装置制造方法及图纸
设备控制方法、设备控制装置、存储介质及电子装置.pdf
设备智能移动控制装置、系统、方法及智能设备与流程

随便看看